日立掃描電子顯微鏡

產品型號：SU8600
更新時間：2026-03-19
產品介紹：日立掃描電子顯微鏡
SU8600
高分辨場發射掃描電子顯微鏡 SU8600系列
*設備照片包含選配項。
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產品介紹

日立掃描電子顯微鏡

SU8600

高分辨場發射掃描電子顯微鏡 SU8600系列

*設備照片包含選配項。

SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質量圖像、大束流分析及長時間穩定運行的冷場成像技術，同時還提升了高通量、自動數據獲取能力。

特點

*高分辨成像

日立的高亮度電子源可保證了即使在低著陸電壓下，也可獲得高分辨的圖像。

高襯度的低加速電壓背散射圖像

3D NAND截面觀察;

在低加速電壓條件下，背散射電子信號能夠顯示出氧化硅層和氮化硅層的襯度差別。

快速BSE圖像：新型閃爍體背散射電子探測器(OCD)*

由于使用了新型的OCD探測器，即使掃描時間不到1秒，也仍然可以觀察到Fin-FET清晰的深層結構圖像.

自動化功能*

EM Flow Creator 允許客戶創建連續圖像采集的自動化工作流程。EM Flow Creator將不同的SEM功能定義為圖形化的模塊，如設置放大倍率、移動樣品位置、調節焦距和明暗對比度等。用戶可以通過簡單的鼠標拖拽，將這些模塊按邏輯順序組成一個工作程序。經過調試和確認后，該程序便可以在每次調用時自動獲得高質量、重現性好的圖像數據。

靈活的用戶界面

原生支持雙顯示器，提供靈活、高效的操作空間。6通道同時顯示與保存，實現快速的多信號觀測與采集。

日立掃描電子顯微鏡

技術參數

機型		SU8600 系列
電子光學系統	二次電子像分辨率	0.6 nm@15 kV
	二次電子像分辨率	0.7 nm@1 kV *
	放大倍率	20 to 2,000,000 x
	電子槍	冷場發射電子源，支持柔性閃爍功能，包含陽極烘烤系統。
	加速電壓	0.5 to 30 kV
	著陸電壓 *	0.01 to 20 kV
探測器	（部分為選配項）	上探測器(UD)
		UD ExB能量過濾器，包含SE/BSE信號混合功能
		下探測器(LD)
		頂探測器(TD)
		TD能量過濾器
		鏡筒內背散射電子探測器(IMD)
		半導體式背散射電子探測器 (PD-BSED)
		新型閃爍體式背散射電子探測器(OCD)
		陰極熒光探測器(CLD)
		掃描透射探測器(STEM Detector)
附件	（部分為選配項）	導航相機、樣品室相機、X射線能譜儀(EDS)、背散射電子衍射探測器(EBSD)
軟件	（部分為選配項）	EM Flow Creater、HD Capture( 40,960×30,720 像素以下）
樣品臺	馬達驅動軸	5軸馬達驅動（X/Y/R/Z/T）
	馬達驅動軸	X：0~110 mm
		Y：0~110 mm
		Z：1.5~40 mm
		T：-5~70°
		R：360°
樣品室	樣品尺寸	直徑可達：150 mm